凸点装或将流行-凸点半导体芯片封装需求呈指数级增长
炎炎夏季,凸点装悄然兴起,时尚大咖说这将成为女性服饰的趋势。无独有偶,在半导体芯片封装领域,凸点技术(Bumping)近几年也非常火,市场需求持续呈现指数级增长,相关封装测试厂尽管产能全开,依然出现供不应求的局面。
凸点半导体芯片封装需求呈指数级增长
面对庞大的市场需求,目前,该产线已向JCET客户交付量产产品,有望在未来几个季度内获得更多国际一流客户的量产认证。
什么是凸点封装?
凸点技术在英文中是Bumping,即晶圆凸点技术。
在晶圆表面长出凸点(金、锡铅等)后,将本来要打金线的长有凸点的芯片正面,倒过来扣在基板上,与基板相连连结,让电信号通过凸点导通。制作晶圆凸点的关键是UBM(under ball metal)技术,即沉积凸点下金属层。
UBM的主要作用是:
(1)作为互联的键合层。
(2)阻挡ball材料原子扩散至下层金属材料。
(3)粘接下层介电材料和金属层,并阻挡污染物沿介电层水平方向迁移至下层金属。
UBM制作质量直接影响焊锡凸点结构可靠性。考虑到成本效益高于其他工艺特别是蒸镀,目前UBM多数由溅镀工艺制作。
一般而言,UBM必须要承受多次回流(经常高达20次)而不损坏。由于UBM是将焊锡凸点和焊盘金属化层粘贴在一起的结构,必须通过切应力和拉伸应力的测试,以保证UBM必须具有足够的强度,而不会因为时间、温度、湿气和偏置电压等因素发生性能退化。
典型晶圆凸点工艺
在晶圆凸点制作中,目前有三种主要的凸点工艺:
(1)蒸镀
该技术由IBM发明并应用与量产,它采用Cr和Cu材料,通过钼投影掩膜进行蒸镀制作UBM。对于高含铅焊料凸点具有极高的可靠性。在蒸镀工艺中,掩膜对中十分重要,并且掩膜设计必须考虑CTE和晶圆的动态温度变化。
由于蒸镀工艺材料利用率较低,所以工艺成本极高。同时,蒸镀工艺一般可接受的面阵列节距极限为225um,不适应当前产品对于小节距的要求。
(2)模板印刷/溅镀工艺
该工艺的模板可以是金属掩膜或光学掩膜,其UBM结构为Al/Ni-V/Cu、Ti/W/Cu等。
光学掩膜可以制作较细节距的凸点,但用于更细节距的话良率是主要问题,对于较大节距本工艺也收到限制,比如较薄或较脆的晶圆。模板印刷工艺的的低成本是有限制的,电镀时必须使用光学掩膜。细节距凸点容易产生凸点的空洞缺陷。由于助焊剂必须与焊膏混合,回流工艺必须监测和控制空洞的形成。
(3)电镀工艺
电镀工艺应用于极细节距凸点的成本效益最好,良率最高,速度最快,凸点密度高。
一般流程是通过盲镀或溅射(成本更低)一层UBM,再使用光刻胶制成的电镀掩膜,通过显影形成侧壁斜率精确控制的焊坝。然后电镀凸点,回流后刻蚀UBM。
该方法可以制作节距低至50um的凸点,且分布均匀。
JCET的凸点半导体芯片封装技术
凸点技术应用
凸点技术一般用于倒装半导体芯片封装生产,应用产品涵盖汽车、无线、计算以及其他智能终端领域,其产业生态正在高速成长。
以JCET的凸点技术为例,其产线位于100级和1000级无尘车间,拥有电镀、共晶、SnPb、高铅、无铅和铜柱凸点技术,目前正在量产的凸点间距可低达90um,最低可达35um,可用于倒装(FC)、POP封装、晶圆级封装(WLCSP)和系统级封装(SiP)以及封装测试代工服务。
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