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传统的快恢复二极管(FRD)与普通二极管主要区别在于反向恢复时间trr的长短,这主要与非平衡载流子寿命有关。常用掺金或电子辐照的方法使少子寿命降低,以获得较短的反向恢复时间。随着电力电子技术的发展,传统的快恢复二极管远不能满足新器件应用的要求,不是简单地缩短trr,还要求有较软的恢复特性。特别是在大功率开关电路中,由于负载往往是感性的,在开关过程中会产生较大的感应电压。为了保护主开关器件不被损坏,需要并联一只续流二极管,使其产生的高电压在回路以电流方式消耗,因此要求续流二极管有快而软的反向恢复特性。本文介绍的快恢复二极管(FRD)就是为了满足开关电源或逆变电路要求而开发的。
为了实现二极管的快速软恢复特性,需要控制阳极的注入效率。对于低压二极管,常采用浅结、肖特基结或pn结与肖特基相结合等方法。对于高压二极管,由于其中有深结、欧姆接触以及漏电流等要求,需采用一些特殊的阳极或阴极结构来调节其注入效率。为了获得较快的反向恢复特性,通过改进阳极结构来控制其注入效率,以降低导通期间的少子注入。图1所示的快恢复二极管采用了不同阳极剖面结构。
图1 具有不同阳极注入效率的功率二极管结构 (1)弱阳极二极管结构如图1a所示,它是通过降低普通pin二极管的阳极掺杂浓度形成的。其n+衬底与n外延层与普通pin二极管相同,只是p阳极区的掺杂浓度比普通pin二极管的p+阳极区掺杂浓度更低。采用此结构可降低阳极注入效率,提高反向恢复速度,并降低开关损耗。故这种结构也称为低损耗二极管(Low Loss Diode, LLD)。除了采用上述的阳极技术外,可以通过质子辐照在p+阳极区引入局部的复合中心来控制载流子寿命,以达到提高反向恢复速度的目的。但是复合中心的位置对反向漏电流的影响较大。在截止期间,如果pn结形成的空间电荷区与局部寿命控制产生的辐射缺陷区重叠(见图2a),会导致高温漏电流增大。为了改善高温击穿特性,可采用电场屏蔽阳极(Field Shielded Anode,FSA)二极管结构,如图2b所示。其阳极区是由高掺杂浓度的浅p+区和低掺杂浓度的深p区组成,辐照产生复合中心的缺陷区位于p+阳极区内,并远离pn结空间电荷区(间距为d),这样不仅降低了阳极注入效率,获得较快的反向恢复特性,而且可以降低高温漏电流,从而提高二极管的高温反向击穿能力。ABB公司采用FSA结构研制出了4.0kV二极管,正向压降为2.1V,在125℃下的漏电流仅为0.6mA,而常规二极管的高温漏电流高达2mA。
图2 FSA与普通阳极二极管的掺杂剖面、电场强度分布及缺陷分布比较
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